Application Notes – 信号源& Amplifier

4040A + 5122:扩展了数字转换器范围

天马4040A差分放大器和National Instruments 5122数字化仪/示波器的结合创造了3U PXI格式的最大范围测量系统。


AN302:选择功率放大器的注意事项

本应用笔记旨在帮助非功率放大器专家的人员了解正确选择所需的基本参数,例如增益,带宽(BW),压摆率(SR),总谐波失真(THD),输入阻抗和电流限制。用于测试和实验的放大器。


AN400:AWG中多个同步输出的优势’s

本应用笔记的目的是提供TEGAM同步输出的摘要’任意波形发生器(AWG),并为其操作和使用提供快速入门指南。


AN401:真vs. DDS任意波形发生器

本应用笔记的目的是提供对True和DDS任意波形发生器之间基本区别的理解。对于AWG,有两种基本的设计变体:DDS(直接数字合成)和True(传统)任意波形发生器。每个设计变体都有其独特的优点和缺点。由于应用程序决定仪器的选择,因此了解True和DDS AWG之间的基本区别非常有益。


AN402:MEMS光学轮廓仪

本应用笔记描述了客户如何使用TEGAM 2350型双通道高压放大器来提高MEMS光学配置文件系统的效率,以及如何将其应用于测试和研究MEMS器件的可靠性。


AN403:使用任意/函数发生器模拟多相电力线波形

多种测试应用都需要多相信号生成。例如,它用于状态监视或故障检测系统。这些测试需要模拟线路频率范围为50的三相正弦波–800 Hz,引入了故障条件或高频噪声。可以考虑使用三相交流电源。但是,它们受到带宽限制,成本和无法重建实际波形的限制。天马’s 2700A系列任意/函数发生器解决了同步,相移和分辨率问题,是模拟脉冲,噪声,传感器激励,速度曲线或故障的理想选择。


AN404:MEMS培训站

描述了为北达科他州立科学学院组装的工作站,该工作站可以激励MEMS设备并以光学方式测量其响应。


AN502:差分放大器测量

进行精确测量需要从连接点到转换为数值的不间断的信号完整性链。应用笔记502解释了差分放大器在测量系统中提供的好处。


AN503:4040A独立式仪表放大器

差分仪表放大器是用于各种测试和实验的必不可少的通用工具。为方便起见,TEGAM提供了一个完整的软件包,其中包括4040A仪表放大器,LabVIEW控制软件和PXI-1033机箱。


AN504:增加TEGAM 4040A的差分电压范围

天马4040A型将PXI数字化仪的测量范围和范围从2 mV扩展到100V。通过将TEGAM 4040A与x10或x100探头结合使用,PXI系统的测量范围可以扩展到1200 Vpk。


AN505:TEGAM功率放大器可简化PSRR测量

一个有趣的注释,可帮助工程师以经济有效的方式进行PSRR测量,同时简化测量过程并减少设置时间。